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設備更新｜掃描電鏡SEM&透射電鏡TEM離子束制樣設備2024年3月1日，《推動大規模設備更新和消費品以舊換新行動方案》經審議通過。會議指出，推動新一輪大規模設備更新和消費品以舊換新，是著眼于我國高質量發展大局作出的重大決策。同時指出，新一...

掃描電鏡制樣：保證掃描電鏡樣品清潔有多重要？掃描電鏡（SEM）主要用于微觀形貌分析，其測試結果的好壞，一方面是由儀器的性能、測試條件和操作人員水平決定，另一方面還與樣品制備過程有關。掃描電鏡（SEM）樣品需要保持清潔、無污染物，盡量把污染程...

在上篇文章中，我們介紹了原子層沉積（ALD）方法包覆電極材料的必要性以及粉末涂層（PC）和極片涂層（DC）兩種不同的改性策略。（詳見：原子層沉積（ALD）技術在鋰電材料中的應用（一）：電極粉末包覆的必要性（上））ALD方法對于電極材料的改善...

引言使用FIB切削獲得超薄樣片(lamella)，是一種常見的塊體材料TEM制樣方法。然而，鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅散的迷霧，阻礙著人們獲得更高質量的TEM照片，進而也限制了對輕元素的量化分析。可以選擇離子精修儀對FIB...

納米印刷沉積：助力納米技術發展，引發納米能源領域革命性變革絕緣、傳導、反射、保溫、耐磨和防銹等材料及其特性在日常生活中發揮著重要作用，科學家們正在不斷努力改善材料的特性以制造出具備更優性能的產品。更好的隔熱效果可以降低供暖成本；更好的傳導導...

應用分享：DENS原位透射電鏡熱電樣品桿助力固態氧化物燃料電池研究通過在環境透射電鏡中使用DENSLightning原位熱電樣品桿，新加坡南洋理工大學的MartialDuchamp博士和他的合作者以原子級分辨率觀察了固態氧化物燃料電池的工作...

為什么使用原子層沉積（ALD）方法對電極材料進行包覆是必要的？鋰電池電極由各種類型的粉末制備合成，對粉末材料表面進行包覆已經成為提高電池性能的有效策略。尤其在固態電池中，固體電解質顆粒(SSA)和電極組合之間的界面兼容性問題仍然存在，通過界...

掃描電鏡是用于樣品微區形貌、結構及成分的觀察和分析的儀器。電子槍發射的電子束在掃描電鏡鏡筒中，通過電磁透鏡聚焦和電場加速，入射到樣品表面，束電子與樣品原子核或核外電子發生多種相互作用，從而產生各種反映樣品特征的信號。這些信號包括：二次電子、...